更新時(shí)間：2020-12-04 點(diǎn)擊次數：2123次
X射線(xiàn)衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線(xiàn)照射產(chǎn)生不同程度的衍射現象，物質(zhì)組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。
X射線(xiàn)衍射儀利用X射線(xiàn)在晶體中的衍射現象來(lái)獲得衍射后X射線(xiàn)信號特征，經(jīng)過(guò)處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實(shí)現常規顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來(lái)看晶體內部是否存在缺陷（位錯）和晶格缺陷等。
主要應用領(lǐng)域包括科研、化工、半導體和環(huán)境等。不斷增長(cháng)的改善材料特性、提高生產(chǎn)效率的需求，將帶動(dòng)X(jué)射線(xiàn)衍射儀市場(chǎng)投資。近年來(lái)，便攜和在線(xiàn)的應用逐漸增加；這主要是因為該設備可以在生產(chǎn)車(chē)間現場(chǎng)應用，并且操作簡(jiǎn)單、方便使用。
X射線(xiàn)衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為X射線(xiàn)衍射儀的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。
?。?）高穩定度X射線(xiàn)源：提供測量所需的X射線(xiàn),改變X射線(xiàn)管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線(xiàn)的波長(cháng),調節陽(yáng)極電壓可控制X射線(xiàn)源的強度。
?。?）樣品及樣品位置取向的調整機構系統：樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
?。?）射線(xiàn)檢測器：檢測衍射強度或同時(shí)檢測衍射方向,通過(guò)儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。
?。?）衍射圖的處理分析系統：現代X射線(xiàn)衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計算機系統,它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。
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